半導體器件參數測試方案
2023-06-12
[2200]
靜態Static (DC) 測試: 客戶的設計目標是優化開關狀態下的電氣性能。泰克的SMU儀器、系統或參數曲線跟蹤器用于執行諸如此類的關鍵測試.
與硅相比，測試WBG功率器件在更高的功率級別下需要更好的分辨率和更快的速度。測試可以分為兩大類
國內第三代半導體現狀 •
?以SiC為代表的第3代半導體因其*的性能在裝備制造、5G、智能 電網、新能源汽車等行業收到了廣泛的熱捧。
• ?當前，我國在第三代半導體方面給予了很大的政策扶持，半導體技術和 歐美日韓等國家的差距在縮小但仍然較大。
• ?以SiC為代表的第3代半導體發展迅速，與Si器件相比性能顯著，但缺點 亦為明顯，成本和工藝等問題仍為目前大規模應用的挑戰。
• ?當前是進入第3代半導體產業的最佳窗口期，也是中國半導體技術與國外 追趕甚至超越歐美日韓等國家的寶貴時期。
• ?國際合作氛圍融洽，市場的多元性和需求梯度驅動第3代半導體發展明顯， 國內外企業、機構積極布局。
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