產品詳情
特點/應用 ◆ 12" 綜合性分析探針臺測試系統 最大可用于12英寸以內樣品測試 ◆ 同軸絲杠傳動結構，線性移動 ◆ 大手柄驅動，操作舒適，無回程差設計 ◆ 針座平臺快速、微調升降功能 ◆ 可搭配多種類型顯微鏡 ◆ 晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等 ◆ 結構模塊化設計，可無縫升級 ◆ 探針臺可根據客戶要求定制。 |  |
12" 綜合性分析探針臺測試系統光學系統
顯微鏡類型 | 單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡 |
放大倍率 | 16X-200X/20X-4000X |
移動行程 | X-Y軸行程2英寸*2英寸/水平360度旋轉，Z軸行程50.8mm |
光源 | 外置LED環形光源/同軸光源 |
CCD | 200萬像素/500萬像素/1200萬像素 |
X-Y-Z移動行程 | 12mm*12mm*12mm |
移動精度 | 10微米/2微米/0.7微米/0.5微米 |
吸附方式 | 磁力吸附/真空吸附 |
線纜 | 同軸線/三軸線 |
漏電精度 | 10pA/100fA/10fA |
固定探針 | 彈簧固定/管狀固定 |
接頭類型 | BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子 |
針尖直徑 | 0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米 |
針尖材質 | 鎢鋼/鈹銅 |
可選附件
加熱臺 |
顯示器 |
轉接頭 |
射頻測試配件 |
屏蔽箱 |
光學平臺 |
鍍金卡盤 |
光電測試配件 |
高壓測試配件 |
顯微鏡快速傾仰裝置 |
激光系統 |
探針卡夾具 |
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