產品詳情
SEM2000是一款基礎款的多功能分析型鎢燈絲掃描電鏡。20?kV分辨率可以做到3.9?nm，支持升級30?kV電壓，可觀察亞微級尺度樣品的微觀結構信息。擁有比臺式電鏡更大的移動范圍，適用于快速篩選待測樣品，更多的擴展接口，可搭載BSED、EDS等附件，使應用領域更廣
鎢燈絲掃描電鏡
SEM2000
是一款基礎款的多功能分析性鎢燈絲掃描電鏡。20kV分辨率可以做到3.9nm，支持升級30kV電壓，可觀察亞微級尺度樣品的微觀結構信息。擁有比臺式電鏡更大的移動范圍，適用于快速篩選待測樣品，更多的擴展接口，可搭載BSED、EDS等附件，使應用領域更廣。
產品特點
簡潔的操作界面
純中文的操作界面
功能設計簡單易操作。符合國人使用習慣，即使是新手用戶，簡單了解后也能快速上手。
*的自動化功能
自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散，均可一鍵調節，提高工作效率。
豐富的測量工具
長度、面積、圓度、角度等測量功能*的照片管理和預覽、編輯功能。
豐富的擴展性
高靈敏度背散射探測器
· 多通道成像
探測器設計精巧，靈敏度高，采用4分割設計，無需傾斜樣品，可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。
· 二次電子成像和背散射電子成像對比
背散射電子成像模式下，荷電效應明顯減弱，并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。
能譜
金屬夾雜物能譜面掃分析結果。
電子背散射衍射
鎢燈絲電鏡束流大，高分辨EBSD的測試需求，能夠對金屬、陶瓷、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析。
該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖，能夠識別晶粒大小和取向，判斷晶界和孿晶，對材料組織結構進行精確判斷。
應用案例
產品參數
售后服務
保修期：1年
是否可延長保修期：是
現場技術咨詢：有
免費培訓：現場技術培訓和年度系統培訓
免費儀器保養：根據合同約定
保內維修承諾：非人為損壞免費上門維修，部件免費更換，消耗品除外
報修承諾：24小時全天候響應，確保國內客戶24小時內給予明確解決方案，48小時內到場維修
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